SBIG社製冷却CCDカメラにおける CCD素子クラス＜グレード＞定義について 更新：2011年 11月 28日 (月) CCD素子クラス＜グレード＞定義・一覧表 ST-7XME・XMEi ST-8XME・XMEi ST-9XE・XEi ST-10XME・XMEi ST-2000XM・XCM ST-4000XCM 　 　 　 　 ST-402ME ST-1603ME ST-3200ME 　 　 STL-1001E STL-1301E STL-4021M・CM STL-6303E STL-11000M・CM クラス定義とは？ 　SBIG社製冷却CCDカメラに採用されるCCD素子のメーカーであるKodak社は、このCCD素子の欠陥の数とタイプによってグレード(Class）を決定しています。一言に「欠陥」という言葉だけを想像すると決して良くないイメージを持たれるでしょうが、実は世界中で生産されるほとんどのCCD素子には、その生産過程の中で多少の程度に差があるにせよ「欠陥画素」と呼ばれるものが多数含まれているのが現状です。一例を挙げると、天文画像処理等で良く耳にする「ホットピクセル」や「クールピクセル」等はごく軽度の欠陥画素の一つであると言えます。つまり、より軽度な画素までを含め「欠陥画素」とグループ分けした場合、より一般的なCCD素子には必ずといって良い程存在している訳です。ただ「欠陥画素あり」というCCD素子は、その素子すべてが欠陥品というわけではありませんし、「欠陥画素」とは受けた光に対してある程度の反応（もしくはその対極反応）や過剰、更には全くの無反応であったり、その反応度が規定の素子に比べ、一定の反応を示さない画素を指しますので、この一定光に対する反応の差によって近辺にある画素と比べて映像が明るく（ホット）又は暗く（クール）映るように見えるケースが考えられます。（この「ホット」又は「クール」ピクセルは、もちろんSBIG社製冷却CCDカメラの標準制御ソフトである「CCDOPS」に納められている各画像処理機能を使用する事で、容易に補正することが可能となっております。）これらのように、完全無欠陥(Class0)のCCD素子も一部入手は可能ですが、ST-10XMEシリーズ等に使用されている特定のCCD素子は、巨大で、かつフォーマットの大きな受光面積を有しており、現在の製造技術では総数百万もの画素数のうち、わずかながら欠陥画素が存在してしまうのが現状となります。もちろんその中には画像の描写レベルでは確認が困難なものまで、様々な程度のものがランダムに含まれております。つまり、このように全ての用途に完全無欠陥である「Class0」素子搭載のCCDカメラは必要なく、一部の学術的用途を除く一般的なご使用の範囲では標準クラス素子搭載のCCDカメラで充分であると考えることができます。これらのことを踏まえSBIG社では、実用上充分な高性能CCDカメラを可能な限り低価格にてユーザーご提案できる様、標準搭載のCCD素子グレードを「Class2」までにとどめ※、よりハイグレードの「Class1」CCD素子をコスト的に採用できる機種にのみこれを標準仕様としています。対して「Class3」のCCD素子を使用することで、更に大幅にコストを押さえる事が可能となる機種も確かにございますが、そのより多くの欠陥内容からは決してお客様にとって得策とは考えられません。つまり、SBIG社ではこれらのCCD素子標準採用することは基本的にございません。つまり、SBIG社では冷却CCDカメラに対する豊富な知識からそのカメラモデルに最も適したグレードのCCD素子を採用している訳です。これも冷却CCDカメラのパイオニアカンパニーであるSBIG社であるからこその、なせる技なのです。　弊社SBIG社製品の日本総代理店では、お客様にお届けするCCDカメラの一台一台全てに「検査表」を作成し、これをお届け致しております。具体的なグレードの内容につきましては、下記をご参照下さい。（※CCD素子のスペックにより例外もあり。） ST-7・402シリーズ (KAF-0400(L)/0401(L)E/0402ME) 日本国内正規製品に対する「CCD素子」標準搭載クラス表 ST-7XME Class2（Class1もご用意可能） ST-7XMEi Class2（Class1もご用意可能） ST-402ME Class2（Class1もご用意可能） 旧製品情報：ST-7全シリーズ→「Class1」　／　ST-7「i」シリーズ→「Class2」 クラス・欠陥種類 ポイント欠陥数 クラスタ−欠陥数 欄(カラム)欠陥数 Class0 0 0 0 Class1 5点以下 0 0 Class2 10点以下 4点以下 0 KAF-0400/0401E/0402ME (NABG仕様)の定義 ポイント欠陥 　ダーク画素／飽和レベルの70%まで照明された画素が隣接する画素と比べて６％以上の感度ダウンを示す画素 　ブライト画素／ 25℃で、１秒当りに5000電子以上の暗電流を示す画素 クラスタ−欠陥 　５点以下の隣接するポイント欠陥画素の集合体画素 欄(カラム)欠陥 　隣接する５点以上のポイント欠陥画素が１本の欄(カラム／主にY軸方向)にある線状の欠陥画素 　または：１本の欄(カラム／主にY軸方向)に、１秒当たりに12,000電子以上の暗電流を示す１個以上の画素を含む線状 　　　　　の欠陥画素 　または：負レベルの最低限度に及ばない画素(ダーク画素)が１本の欄(カラム／主にY軸方向)にある線状の欠陥画素 　または：2000eの照明で、250e以上の電子ロスを示す画素が一つ以上含まれる線状の欠陥画素 　※欄(カラム)隣接画素：周辺にある128 x 128画素、又は±64欄/1行 　※欠陥から欠陥までの間隔：欄(カラム)及びクラスタ−欠陥は、方向を問わず、最低２画素離れていること（ポイント欠陥は非対象） KAF-0400L/0401LE (ABG仕様＜製造中止＞)の定義 ポイント欠陥 　ダーク画素／飽和レベルの70%までに照明された画素が隣画素と比べて６％以上の感度ダウンを示す画素 　ブライト画素／ 25℃で、１秒当りに3000電子以上の暗電流を示す画素 クラスタ−欠陥 　５点以下の隣接するポイント欠陥画素の集合体画素 欄（カラム）欠陥 　隣接する５点以上のポイント欠陥画素が１本の欄(カラム／主にY軸方向にある線状の欠陥画素 　または：１本の欄(カラム／主にY軸方向)に、１秒当たりに6,000電子以上の暗電流を示す１個以上の画素を含む線状 　　　　　の欠陥画素 　または：負レベルの最低限度に及ばない画素(ダーク画素)が１本の欄(カラム／主にY軸方向)にある線状の欠陥画素 　または：2000eの照明で、250e以上の電子ロスを示す画素が一つ以上含まれる線状の欠陥画素 　※欄(カラム)隣接画素：周辺にある128 x 128画素、又は±64欄/1行 　※欠陥から欠陥までの間隔：欄(カラム)及びクラスタ−欠陥は、方向を問わず、最低２画素離れていること（ポイント欠陥は非対象） ST-8・1603シリーズ (KAF-1600(L)/1602(L)E/1603ME) 日本国内正規製品に対する「CCD素子」標準搭載クラス表 ST-8XME Class2 ST-8XMEi Class2 ST-1603ME Class2 旧製品情報：ST-8全シリーズ→「Class2」　／　ST-8「i」シリーズ→「Class2」 クラス・欠陥種類 ポイント欠陥数 中心領域 800x600画素 ポイント 欠陥数 （合計） クラスタ−欠陥 中心領域 800x600画素 クラスタ−欠陥 合計 欄(カラム欠陥数) 中心領域 800x600画素 欄欠陥数（合計） Class0* --- --- --- --- --- --- Class1* --- --- --- --- --- --- Class2 5点以下 10点以下 2点以下 4点以下 0 0 Class3* --- --- --- --- --- --- *注意：コダック社ではこれらのCCD素子は供致しておりません。 KAF-1600/1602E/1603ME (NABG仕様)の定義 ポイント欠陥 　ダーク画素／飽和レベルの70%までに照明された画素が隣画素と比べて６％以上の感度ダウンを示す画素 クラスタ−欠陥 　ブライト画素／ 25℃で、１秒当りに5000電子以上の暗電流を示す画素 欄（カラム）欠陥 　５点以下の隣接するポイント欠陥画素の集合体画素 　隣接する５点より多いの隣接ポイント欠陥が１本の欄にある 　または：1本の欄(カラム／主にY軸方向)に、1秒当たりに12,000電子以上の暗電流を示す１個以上の画素を含む線状 　　　　　の欠陥画素 　または：負レベルの最低限度に及ばない画素(ダーク画素)が１本の欄(カラム／主にY軸方向)にある線状の欠陥画素 　または：2000eの照明で、250e以上の電子ロスを示す画素が一つ以上含まれる線状の欠陥画素 　※欄(カラム)隣接画素：周辺にある128 x 128画素、又は±64欄/1行 　※欠陥から欠陥までの間隔：欄(カラム)及びクラスタ−欠陥は、方向を問わず、最低２画素離れていること（ポイント欠陥は非対象） 　※欠陥領域控除：上記領域(800×600画素)以外に、2列／2欄(カラム)の欠陥は、欠陥内容に含まれません。 KAF-1600L/1602LE (ABG仕様＜製造中止＞)の定義 ポイント欠陥 　ダーク画素／飽和レベルの70%までに照明された画素が隣画素と比べて６％以上の感度ダウンを示す画素 クラスタ−欠陥 　ブライト画素／ 25℃で、１秒当りに3000電子以上の暗電流を示す画素 欄（カラム）欠陥 　５点以下の隣接するポイント欠陥画素の集合体画素 　隣接する５点より多いの隣接ポイント欠陥が１本の欄にある 　または：1本の欄(カラム／主にY軸方向)に、1秒当たりに6,000電子以上の暗電流を示す１個以上の画素を含む線状 　　　　　の欠陥画素 　または：負レベルの最低限度に及ばない画素(ダーク画素)が１本の欄(カラム／主にY軸方向)にある線状の欠陥画素 　または：2000eの照明で、250e以上の電子ロスを示す画素が一つ以上含まれる線状の欠陥画素 　※欄(カラム)隣接画素：周辺にある128 x 128画素、又は±64欄/1行 　※欠陥から欠陥までの間隔：欄(カラム)及びクラスタ−欠陥は、方向を問わず、最低２画素離れていること（ポイント欠陥は非対象） 　※欠陥領域控除：上記領域(800×600画素)以外に、2列／2欄(カラム)の欠陥は、欠陥内容に含まれません。 ST-9シリーズ (KAF-0261E) 日本国内正規製品に対する「CCD素子」標準搭載クラス表 ST-9XE Class1 ST-9XEi Class1 旧製品情報：ST-9全シリーズ→「Class1」　／　ST-9「i」シリーズ→「Class1」 クラス・欠陥種類 ポイント欠陥 クラスタ−欠陥 欄(カラム)欠陥 Class0 0 0 0 Class1 10点以下 4点以下 0 UV Enhanced 10点以下 4点以下 0 KAF-0261E (NABG仕様)の定義 ポイント欠陥 　ダーク画素／飽和レベルの70%までに照明された画素が隣画素と比べて20％以上の感度ダウンを示す画素 　ブライト画素／ 25℃で、１秒当りに4500電子以上の暗電流を示す画素 クラスタ−欠陥 　５点以下の隣接するポイント欠陥画素の集合体画素 欄(カラム)ﾗ 　ポイント欠陥(ダークカラム)が１本の欄(カラム)にある線状の欠陥画素 　または：1本の欄(カラム／主にY軸方向)に、1秒当たりに150,000電子以上の暗電流を示す１個以上の画素を含む線状 　　　　　の欠陥画素 　または：負レベルの最低限度に及ばない画素(ダーク画素)が１本の欄(カラム／主にY軸方向)にある線状の欠陥画素 　または：2000eの照明で、500e以上の電子ロスを示す画素が一つ以上含まれる線状の欠陥画素 　※欄(カラム)隣接画素：周辺にある128 x 128画素、又は±64欄/1行 　※欠陥から欠陥までの間隔：欄(カラム)及びクラスタ−欠陥は、方向を問わず、最低２画素離れていること（ポイント欠陥は非対象） ST-10・3200シリーズ (KAF-3200E/3200ME) 日本国内正規製品に対する「CCD素子」標準搭載クラス表 ST-10XME Class2 ST-10XMEi Class2 ST-3200ME Class2 旧製品情報：ST-10全シリーズ→「Class2」　／　ST-10「i」シリーズ→「Class2」 クラス・欠陥種類 ポイント欠陥 中心領域 1544x1040 ポイント欠陥 合計 クラスタ−欠陥 中心領域 1544x1040 クラスタ−欠陥 合計 欄(カラム）欠陥 中心領域 1544x1040 欄欠陥合計数 Class0* --- --- --- --- --- --- Class1* --- --- --- --- --- --- Class2 5点以下 10点以下 2点以下 4点以下 0 0 Class3* --- --- --- --- --- --- *注意：コダック社ではこれらのCCD素子は供致しておりません。 KAF-3200E/3200ME (NABG仕様のみ)の定義 ポイント欠陥 　ダーク画素／飽和レベルの70%までに照明された画素が隣画素と比べて６％以上の感度ダウンを示す画素 　ブライト画素／ 25℃で、１秒当りに5000電子以上の暗電流を示す画素 クラスタ−欠陥 　５点以下の隣接するポイント欠陥画素の集合体画素 欄（カラム）欠陥 　隣接する５点より多いの隣接ポイント欠陥が１本の欄にある 　または：1本の欄(カラム／主にY軸方向)に、1秒当たりに12,000電子以上の暗電流を示す１個以上の画素を含む線状 　　　　　の欠陥画素 　または：負レベルの最低限度に及ばない画素(ダーク画素)が１本の欄(カラム／主にY軸方向)にある線状の欠陥画素 　または：2000eの照明で、250e以上の電子ロスを示す画素が一つ以上含まれる線状の欠陥画素 　※欄(カラム)隣接画素：周辺にある128 x 128画素、又は±64欄/1行 　※欠陥から欠陥までの間隔：欄(カラム)及びクラスタ−欠陥は、方向を問わず、最低２画素離れていること（ポイント欠陥は非対象） 　※欠陥領域控除：上記領域(1544×1040画素)以外に、2列／2欄(カラム)の欠陥は、欠陥内容に含まれません。 ST-2000シリーズ (KAI-2020M/2020CM) 日本国内正規製品に対する「CCD素子」標準搭載クラス表 ST-2000XM・XCM 標準クラスのみ クラス・欠陥種類 ポイント欠陥 中心領域 ポイント欠陥 合計 クラスタ−欠陥 中心領域 クラスタ−欠陥 合計 欄(カラム）欠陥 中心領域 欄欠陥合計数 Class0 --- --- --- --- --- --- Class1 --- --- --- --- --- --- Class2 --- --- --- --- --- --- Class3 --- --- --- --- --- --- KAI-2020M/2020CM (ABG仕様のみ)の定義 ポイント欠陥 　 　 クラスタ−欠陥 　 欄（カラム）欠陥 　 　 　 　 　※欄(カラム)隣接画素： 　※欠陥から欠陥までの間隔： 　※欠陥領域控除： ST-1001E / STL-1001E (KAF-1001E) 日本国内正規製品に対する「CCD素子」標準搭載クラス表 STL-1001E（現行機種） Class2 旧製品情報：ST-1001E→「Class3」　／　STL-1001E（前期機種）→「Class3」 クラス・欠陥種類 ポイント欠陥 クラスタ−欠陥 欄(カラム）欠陥 Class0* --- --- --- Class1* --- --- --- Class2 40点以下 10点以下 0 Class3* --- --- --- *注意：コダック社ではこれらのCCD素子は供致しておりません。 KAF-1001E (NABG仕様のみ)の定義 ポイント欠陥 　ダーク画素／飽和レベルの70%までに照明された画素が隣画素と比べて20％以上の感度ダウンを示す画素 　ブライト画素／ 25℃で、１秒当りに4500電子以上の暗電流を示す画素 クラスタ−欠陥 　５点以下の隣接するポイント欠陥画素の集合体画素 欄（カラム）欠陥 　ポイント欠陥(ダークカラム)が１本の欄(カラム)にある線状の欠陥画素 　または：1本の欄(カラム／主にY軸方向)に、1秒当たりに150,000電子以上の暗電流を示す１個以上の画素を含む線状 　　　　　の欠陥画素 　または：負レベルの最低限度に及ばない画素(ダーク画素)が１本の欄(カラム／主にY軸方向)にある線状の欠陥画素 　または：2000eの照明で、500e以上の電子ロスを示す画素が一つ以上含まれる線状の欠陥画素 　※欄(カラム)隣接画素：周辺にある128 x 128画素、又は±64欄/1行 　※欠陥から欠陥までの間隔：欄(カラム)及びクラスタ−欠陥は、方向を問わず、最低２画素離れていること（ポイント欠陥は非対象） ST-4000XCM / STL-4021M・CM (KAF-4021M・CM) 日本国内正規製品に対する「CCD素子」標準搭載クラス表 STL-4021M Class2 STL-4021CM Class2 ST-4000XCM ----- クラス・欠陥種類 ポイント欠陥 クラスタ−欠陥 欄(カラム）欠陥 Class0* --- --- --- Class1* --- --- --- Class2 40点以下 8点以下 0 *注意：コダック社ではClass0&1のCCD素子は供致しておりません。 KAI-4021M (ABG仕様のみ)の定義 ポイント欠陥 　 　 クラスタ−欠陥 　 欄（カラム）欠陥 　 　 　 　 　※欄(カラム)隣接画素： 　※欠陥から欠陥までの間隔： STL-1301E＜製造中止＞ (KAF-1301E) 日本国内正規製品に対する「CCD素子」標準搭載クラス表 STL-1301E Class2 クラス・欠陥種類 ポイント欠陥 中心領域 800x600 ポイント欠陥 合計 クラスタ−欠陥 中心領域 800x600 クラスタ−欠陥 合計 欄(カラム）欠陥 中心領域 800x600 欄欠陥合計数 Class0* --- --- --- --- --- --- Class1 --- --- --- --- --- --- Class2 --- --- --- --- --- --- Class3 --- --- --- --- --- --- *注意：コダック社ではClass0のCCD素子は供致しておりません。 KAF-1301E (NABG仕様のみ＜製造中止＞)の定義 ポイント欠陥 　ダーク画素／飽和レベルの70%までに照明された画素が隣画素と比べて20％以上の感度ダウンを示す画素 　ブライト画素／ 25℃で、１秒当りに4500電子以上の暗電流を示す画素 クラスタ−欠陥 　５点以下の隣接するポイント欠陥画素の集合体画素 欄（カラム）欠陥 　ポイント欠陥(ダークカラム)が１本の欄(カラム)にある線状の欠陥画素 　または：1本の欄(カラム／主にY軸方向)に、1秒当たりに150,000電子以上の暗電流を示す１個以上の画素を含む線状 　　　　　の欠陥画素 　または：負レベルの最低限度に及ばない画素(ダーク画素)が１本の欄(カラム／主にY軸方向)にある線状の欠陥画素 　または：2000eの照明で、150e以上の電子ロスを示す画素が一つ以上含まれる線状の欠陥画素 　※欄(カラム)隣接画素：周辺にある128 x 128画素、又は±64欄/1行 　※欠陥から欠陥までの間隔：欄(カラム)及びクラスタ−欠陥は、方向を問わず、最低２画素離れていること（ポイント欠陥は非対象） STL-6303E (KAF-6303E) 日本国内正規製品に対する「CCD素子」標準搭載クラス表 STL-6303E Class2 クラス・欠陥種類 ポイント欠陥 中心領域 1024x1024 ポイント欠陥 合計 クラスタ−欠陥 中心領域 1024x1024 クラスタ−欠陥 合計 欄(カラム）欠陥 中心領域 1024x1024 欄欠陥合計数 Class0* --- --- --- --- --- --- Class1* --- --- --- --- --- --- Class2 45点以下 90点以下 18点以下 36点以下 0 0 *注意：コダック社ではこれらのCCD素子は供致しておりません。 KAF-6303E (NABG仕様のみ)の定義 ポイント欠陥 　ダーク画素／飽和レベルの70%までに照明された画素が隣画素と比べて20％以上の感度ダウンを示す画素 　ブライト画素／ 25℃で、１秒当りに10000電子以上の暗電流を示す画素 クラスタ−欠陥 　５点以下の隣接するポイント欠陥画素の集合体画素 欄（カラム）欠陥 　ポイント欠陥(ダークカラム)が１本の欄(カラム)にある線状の欠陥画素 　または：1本の欄(カラム／主にY軸方向)に、1秒当たりに30,000電子以上の暗電流を示す１個以上の画素を含む線状 　　　　　の欠陥画素 　または：負レベルの最低限度に及ばない画素(ダーク画素)が１本の欄(カラム／主にY軸方向)にある線状の欠陥画素 　または：2000eの照明で、250e以上の電子ロスを示す画素が一つ以上含まれる線状の欠陥画素 　※欄(カラム)隣接画素：周辺にある128 x 128画素、又は±64欄/1行 　※欠陥から欠陥までの間隔：欄(カラム)及びクラスタ−欠陥は、方向を問わず、最低２画素離れていること（ポイント欠陥は非対象） STL-11000M・CM (KAI-11002M・CM) 日本国内正規製品に対する「CCD素子」標準搭載クラス表 STL-11000M・CM（クラス1） Class1 STL-11000M・CM（クラス2） Class2 クラス・欠陥種類 ポイント欠陥 クラスタ−欠陥 欄(カラム）欠陥 ClassX*（モノクロのみ） 100点以下 0 0 Class0*（モノクロのみ） 100点以下 1点以下 0 Class1 100点以下 20点以下 0 Class2（モノクロ） 200点以下 20点以下 2点以下 Class2（カラー） 200点以下 20点以下 10点以下 ※ご注意：お届け時期はその都度要確認。ご要望の際はお時間に余裕をお持ち頂きましてご注文下さいませ。 KAF-11002M (ABG仕様のみ)の定義 ポイント欠陥 　 　 クラスタ−欠陥 　 欄（カラム）欠陥 　 　 　 　 　※欄(カラム)隣接画素： 　※欠陥から欠陥までの間隔： SBIG社製品日本輸入総代理店 SBIGJapan（国際光器/株式会社マゼラン） HOME　　　　お問い合わせ（メール）　　　　ご注文（html）